Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

Diffraction des rayons X sur poudre

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Contact

Romuald SAINT-MARTIN

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Bât. : 410 - 2ème étage

Tél. : 01 69 15 48 06
 

 

Renseignements obtenus

La diffractométrie de rayons X (sur poudre) est une méthode d'analyse physico-chimique qualitative et quantitative. Cette technique permet de déterminer la nature de chaque phase cristalline au sein d'un échantillon mais aussi de remonter à la structure du système analysé (paramètres de maille, positions atomique, …)

Principe

La diffractométrie de rayons X est une technique d'analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière. La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des rayons X, et à analyser l'intensité des rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de «diffraction». On enregistre l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation 2θ du faisceau.

Matériaux

Tout type de matériaux cristallisés (minéraux, métaux, céramiques, produits organiques cristallisés)

Utilisation

Les appareils de diffraction sont en libre-service sous conditions d'accord (formation requise).

Options diverses

Possibilités d’utiliser différents types de porte-échantillon.