Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

Diffraction des rayons X sur mono-cristal

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Contact

Régis GUILLOT

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Bât. : 420

Bureau : 01 69 15 47 52

Labo. : 01 69 15 76 40

 

La Diffraction des Rayons X (DRX) sur monocristal est la technique de référence en cristallographie structurale. La connaissance de la structure moléculaire et cristalline est capitale pour tout ce qui concerne les problèmes de stéréochimie (chiralité, stéréoisomérie ...), et d'une manière générale les relations structure-activité, et ces informations essentielles sont souvent impossibles à obtenir avec d'autres méthodes.

 

La réactivité chimique, la catalyse, la chimie de coordination et la chimie supramoléculaire, la physico-chimie du solide, l'élaboration de nouveaux matériaux ou de substances naturelles pour la pharmacie sont quelques-uns des domaines où la Diffraction des Rayons X est la méthode analytique de référence.

 

Renseignements obtenus :

Il fournit des informations cristallographiques et structurales sur les composés (positions des atomes en 3D; figures ; distances et angles interatomiques ; liaisons intra et intermoléculaires ; modes d'association moléculaire.). Dans des études plus poussées : la détermination de la configuration absolue des molécules, les charges des atomes et le calcul des potentiels électrostatiques.

Principe :

Cette technique repose sur l'enregistrement des intensités diffractées par un monocristal soumis à un rayonnement X et les informations obtenues permettent de déterminer la structure tridimensionnelle des molécules à la résolution atomique.

Utilisation :

Les diffractomètres ne sont pas en libre-service.

Activités du service :

L’ingénieur du service prends en charge l'intégralité des étapes nécessaires de la détermination des structures cristallines :

  • Sélection et montage des cristaux (souvent sensible à l’air)

  • Détermination de maille cristalline et du réseau de Bravais

  • Enregistrement optimisé des intensités diffractées, traitement des données

  • Réalisation du faciès du cristal avec indexation des faces

  • Recherche des extinctions systématiques et du groupe d’espace

  • Résolution et affinement des structures

  • Détermination de la configuration absolue.

  • Représentation graphique des molécules et rédaction de la partie cristallographique des publications.

  • Dépôt des fichiers CIFs à la banque de donnée structurale (CCDC).

Equipement autre que diffractomètre :

Note

Les études sur poudres, couches minces, etc…ne sont pas assurées par ce Service RX qui ne dispose pas des appareils adéquats. Prière de s’adresser au service poudre ou surface de l’institut.

Options diverses :

Basse température (28 K-500 K). À basse température, des mesures très précises sur des composés de dimension moyenne peuvent donner des informations sur les caractéristiques de la densité électronique et donc sur les liaisons chimiques et leurs relations avec les propriétés physiques.

 

Formulaire de demande d'analyse  : doc ; pdf