Modèle
PANalytical X'Pert PRO MRD
Caractéristiques de l’appareil
- Tube émetteur de Rayons X à anticathode de cuivre
- Berceau d’Euler - goniomètre à 4 cercles
- Possibilité de monter une platine chauffante permettant de faire varier la température de 300 K à 1173 K
- Choix entre trois optiques :
- un miroir pour l’analyse de phases et l’analyse en incidence rasante
- une lentille polycapillaire pour l’analyse des contraintes et des textures
- un mono-capillaire pour l’analyse par micro-diffraction RX.
- Détecteur rapide X’celerator ou détecteur proportionnel à gaz (Xenon)
- Monochromateur arrière en graphite (avec détecteur proportionnel) permettant l’atténuation de la fluorescence X
Logiciels d'analyse
- Logiciel d’identification de phases (X’pert HighScore)
- Logiciel d’analyse des contraintes résiduelles (X’pert Stress)
- Logiciel d’analyse de la texture (LaboTex 3.0)
- Logiciel d’affinement de structure par la méthode de Rietveld (FullProf)
- Logiciel d’analyse des données de réflectométrie (X’pert Reflectivity)