Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

Diffraction des rayons X sur couche mince

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Contact

Vincent JI

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Bât. : 410

Tél. : 01 69 15 63 18

 

Renseignements obtenus

Le diffractomètre RX en incidence rasante va permettre de réaliser sur des échantillons cristallisés des analyses de phases, de texture cristalline et de contraintes internes.

Caractérisation structurale d’échantillons massifs ou de films minces à température ambiante ou en température selon différents modes d’analyse :

  • Configuration θ/2θ ou en incidence rasante : Analyse de phases, Structure cristalline
  • Configutation 4-cercles: Texture cristalline dans des couches d'une épaisseur micronique 
  • Configutation 4-cercles en incidence variable: Détermination de contraintes résiduelles (méthode des sin2φ), Analyse des profils de raies de diffraction (micro-déformaiton), Détermination des orientation des monocristaux et des cotnraintes internes des monocristaux

Principe

La diffractométrie de rayons X est une technique d’analyse basée sur l'interaction élastique entre les photons incidents et les atomes qui se situent aux réseaux cristallin. La méthode générale consiste à faire diffracter l’échantillon avec un faisceau incident de photons monochromatiques, et à analyser la position, l'intensité et l'élargissement des pics de diffraction selon l’orientation dans l’espace. 

Matériaux

Couches minces et matériaux cristallisés polycristallins (massifs ou en poudres) ou monocristallins.

Utilisation

Le diffractomètre de rayons X peut être en libre service sous condition d'habilitation. Il nécessite néanmoins une réservation préalable. Si vous possédez un compte de réservation pour l'utilisation de l'appareil, cliquer ici. Sinon, contactez le responsable de l'appareil.