Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

XPS



    Contact :

Diana Dragoé

LEHME - Bât. : 410

Tél. : 01 69 15 31 96

Envoyer un mail


Renseignements obtenus : La spectroscopie XPS permet d'obtenir des informations qualitatives et quantitatives sur la composition chimique des surfaces et sur la nature des liaisons chimiques. Tous les éléments, sauf l'hydrogène et l'hélium, sont détectables. C'est une technique d'analyse non-destructive, mise en œuvre sous ultra-vide et qui sonde les premiers nanomètres des échantillons.

Principe : L'interaction d'un photon X d'énergie hν avec un atome ou une molécule conduit à l'ionisation de cet atome ou molécule et l’émission, à partir d’un niveau d’énergie El, d’un photoélectron d’énergie cinétique Ec. Le principe de la spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X (ou spectroscopie de photoélectrons, XPS) repose sur la mesure de la distribution en énergie des électrons émis.
La relation : El = hn - Ec - Fspec , où Fspec représente le travail de sortie du spectromètre d’électrons, permet de déterminer les énergies de liaison des électrons émis et donc d'identifier les atomes dont ils proviennent.

Matériaux : L'appareil disponible à l'ICMMO permet d'analyser tous les types d'échantillons solides (taille maximale des échantillons 60 x 60 x 20 mm) ou des poudres.

Utilisation : L'appareil n'est généralement pas en libre service, à l'exception de demandes récurrentes. Dans ce cas, l'utilisation par une autre personne ne sera possible qu'après une formation avec l'ingénieur responsable. De plus, des préstations externes sont possibles.

Options diverses :

L'appareil dispose:
- d'un canon à ions qui permet de mesurer des profils en profondeur
- d'un système de compensation de charge qui permet d'analyser des échantillons isolants
- d'un module d'inclinaison qui permet des analyses en résolution angulaire (tilt range 0 – 70°)