Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay
 

Diffractomètres des Rayons X pour mono-cristaux



 

Contact :

Régis GUILLOT (IR, responsable du service)

Jérémie Forte (T, soutien au service)

Bât. : 420

Tél. : 01 69 15 47 52 (ou 76 40)

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Date de céation du service : Décembre 2003.

Renseignements obtenus : Il fournit des informations cristallographiques et structurales sur les composés (positions des atomes en 3D; figures ; distances et angles interatomiques ; liaisons intra et intermoléculaires ; modes d'association moléculaire.). Dans des études plus poussées : la détermination de la configuration absolue des molécules, les charges des atomes et le calcul des potentiels électrostatiques.

Principe : Mesure des intensités diffractées par les monocristaux minéraux, organiques et organométalliques soumis à un rayonnement X.

Utilisation : Les diffractomètres ne sont pas en libre service.

Activités du service : L’ingénieur du service est chargé de la détermination des structures cristallines sur petites et moyennes molécules organiques et organométalliques :

  • Sélection et montage des cristaux (souvent sensible à l’air)
  • Détermination de maille cristalline et du réseau de Bravais
  • Enregistrement optimisé des intensités diffractées, traitement des données
  • Réalisation du faciès du cristal avec indexation des faces
  • Recherche des extinctions systématiques et du groupe d’espace
  • Résolution et affinement des structures
  • Détermination de la configuration absolue.
  • Représentation graphique des molécules et rédaction de la partie cristallographique des publications.
  • Dépôt des fichiers CIFs à la banque de donnée structurale (CCDC).

Equipement autre que diffractomètre :

  • 2 stéréo microscopes STEMI 2000 à lumière polarisée, l’une placée sous une sorbonne à recirculation d'air,  équipée d’une caméra permettant la prise de photos et/ou vidéos de cristaux et la visualisation en direct sur écran PC.
  • 2 postes de travail avec programmes de résolution et d’affinement des structures.
  • Accès à la base de données cristallographiques CSD (Cambridge Structural Database).

Options diverses :

  • Basse température (90K-500K). À basse température, des mesures très précises sur des composés de dimension moyenne peuvent donner des informations sur les caractéristiques de la densité électronique et donc sur les liaisons chimiques et leurs relations avec les propriétés physiques.
  • Très basse température (28K-300K) à l’aide d’un système N-Helix de chez OxfordCryosystems. Pour des composés ayant des propriétés physiques intéressantes à ces températures.
  • Irradiation par des diodes laser (λ=405nm ; 643nm et 1300nm ; 20 à 80mW)

Note : Les études sur poudres, couches minces, etc…ne sont pas assurées par ce service RX qui ne dispose pas des appareils adéquats. Prière de s’adresser aux services poudre ou surface de l’Institut.

Télécharger une fiche de demande d'analyse RX mono (doc) et fiche de demande d'analyse RX mono (pdf)