Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay
 

Microscope éléctronique à balayage FEG à pression contrôlée



   

Contact :

François BRISSET

Bât. : 410/415

Tél. : 01 69 15 54 30

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Renseignements obtenus :

Imagerie électronique (SE, in-lens, BSE), analyses EDS (spectres, lignes - matrices ou cartographie), analyses EBSD (clichés et cartographie, assemblages).

Principe :

Un faisceau électronique interagit avec l’échantillon. Les interactions élastiques et inélastiques génèrent différents types de signaux dont certins vont être détectés et analysés.

Matériaux :

A peu près tous les types de matériaux (PROPRES et non hydratés) et préparés comme il se doit. Possibilité de travailler sous pression contrôlée. Restrictions possibles liées à la taille des phases à analyser ou de l’échantillon, des conditions de travail à utiliser, etc.

Utilisation : Ces appareils ne sont pas, a priori, en libre service. Prestations possibles.

Options diverses : Détecteurs SE, In-lens, BSE, VPSE, STEM, EBSD, EDS, platine chauffante.