Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

Microscopie de champ proche



    Contact :

Jean-Claude POULIN

Bât. : 420

Tél. : 01 69 15 76 51

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Renseignements obtenus :

Etude de surfaces, imagerie digitale topographique ou électronique, informations sur adhésion, frottement ou dureté de la surface (imagerie ou spectroscopie).

Principe :

Une pointe vient en contact ou à proximité immédiate de la surface explorée. En AFM : interaction mécanique pointe-surface (contact permanent ou intermittent) ; en STM : pointe et échantillon sont conducteurs de l’électricité et fournissent des images grâce au courant tunnel circulant entre eux.

Echantillons :

Des matériaux divers peuvent être étudiés par AFM, en STM l’échantillon doit être conducteur ou déposé sur un conducteur parfaitement plan. Fonctionnement à pression atmosphérique, contrôle possible de l’environnement (liquide, gaz, température). La surface observée doit être plate, de dimension raisonnable.

Utilisation : Beaucoup de minutie nécessaire à la mise en œuvre, initiation possible pour une utilisation régulière.

Options diverses :

STM bas courant (qq pA à qq nA), température variable (-5 à 40°C et amb à 200°C), cellules liquide, chambre environnementale. Surface maximale observable : 10µm de coté en STM, 6µm de coté en AFM à contact intermittent, 20µm de coté en AFM de contact.