Laboratoire de Physico-Chimie de l'Etat Solide - LPCES

2. A l'échelle mésoscopique, la diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD: Electron Back Scattered Diffraction) permet, en mode automatique, de reconstruire la microstructure en termes d’orientations à partir de l’indexation de diagrammes de Kikuchi (figure 3). Cette technique de microscopie à imager les orientations (OIMTM) est particulièrement bien adaptée à l’étude de la croissance granulaire ; ainsi nous avons pu montrer, dans le cas de monocristaux de cuivre déformés en déformation plane imposée, que la recristallisation est contrôlée par le mécanisme de croissance sélective (collaboration avec le Prof. Z. Jasienski de l'Institut de Métallurgie de l'Académie des Sciences de Cracovie).


fig I2

Figure 3 : Diagramme de Kikuchi obtenu par EBSD pour le composé CuGeO3


Pour en savoir plus

D.J. Dingley, "A comparison of diffraction techniques for the SEM", Scanning Electron Microscopy, IV, 273-276 (1981).
Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Ed. A.J. Schwartz, M. Kumar, B.L. Adams,Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York (2000).
V. Randle and O. Engler, "Introduction to texture analysis. Macrotexture, microtexture & orientation mapping, Gordon and Breach Science Publishers, The Netherlands (2000).

Une fois le matériau recristallisé, cette technique permet de suivre la croissance normale ou anormale, comme c'est le cas pour des alliages Fe3%Si utilisés dans la fabrication des transformateurs de puissance (figure 4), et donc de suivre l'anisotropie de vitesse de migration des joints de grains séparant un grain de Goss d'orientation {110}<001> de ses premiers voisins.

fig t4a
fig t4b
fig t4c
(a)
(b)
(c)
Figure 4 : Microstructure d'un alliage de Fe3%Si après un recuit de 5 min. à 970°C analysée par OIM
(a) Reconstruction de la microstructure en fonction de la qualité des diagrammes de Kikuchi
(b) Distribution des plans {hkl}
(c) Code de couleur utilisé pour le tracé de la cartographie couleur de la figure 4b


 
16 mars, 2007